Модель трансімпедансного перетворювача для оптичних сенсорів з функцією вбудованої самодіагностики
Article Sidebar
This work is licensed under a Creative Commons Attribution-ShareAlike 4.0 International License.
Main Article Content
Abstract
Розроблено модель трансімпедансного перетворювача для оптичних сенсорів із функцією вбудованої самодіагностики, що дозволяє компенсувати нестабільність роботи фотоперетворювачів шляхом вимірювання та аналізу дрейфу їхніх параметрів під час експлуатації. Запропонований підхід базується на методах in-situ діагностики та передбачає використання алгоритмічно-структурних рішень для оптимізації імпедансних характеристик сигнальних трактів перетворювача з метою підвищення стабільності роботи сенсорів. Проведено моделювання запропонованої системи з використанням макромоделей у програмі SPICE (Simulation Program with Integrated Circuit Emphasis) та здійснено аналіз впливу параметрів імпедансу на надійність і ефективність функціонування сенсорних пристроїв.
Article Details
References
Kreger, M., Ziera, E., Eckert, B., Lee, S., Pusateri, B., Wicks, S., Rodman, S., Hauch, J., & Brabec, C. (2009). Reliability and lifetime of flexible organic electronics. 2009 IEEE International Reliability Physics Symposium, 104–104. https://doi.org/10.1109/IRPS.2009.5173232 DOI: https://doi.org/10.1109/IRPS.2009.5173232
Chen, R. Y., & Yang, Z.-Y. (2016). CMOS transimpedance amplifier for gigabit-per-second optical wireless communications. IEEE Transactions on Circuits and Systems II: Express Briefs, 63(5), 418– 422. https://doi.org/10.1109/TCSII.2015.2505264 DOI: https://doi.org/10.1109/TCSII.2015.2505264
Барило, Г. І., Голяка, Р. Л., & Готра, З. Ю. (2017). Сигнальні перетворювачі мікроелектронних сенсорів імпедансного типу. Ліга-прес.
Hsu, F.-J., Yen, C.-C., Li, Y., Lin, C.-Y., Chen, K.-H., & Wu, A.-Y. (2018). High accuracy large-signal SPICE model for silicon carbide MOSFET. 2018 IEEE 30th International Symposium on Power Semiconductor Devices and ICs (ISPSD), 403–406. https://doi.org/10.1109/ISPSD.2018.8393688 DOI: https://doi.org/10.1109/ISPSD.2018.8393688